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プレート方式シンチレータ

要素技術

「蛍光体プレート」は、独自開発のベースフィルム・バインダー樹脂を用いた「高感度タイプ」と、高速検査用の「短残光タイプ」をラインアップしています。 東レの蛍光体プレ―トは、独自開発した高反射率フィルムをベースフィルムとして採用する事でシンチレータパネルの初期輝度を向上させる事に成功しました。また、Ｘ線による輝度劣化が進む原因を解明し対策する事で、長期間安定した輝度を維持するシンチレータです。これら二つの革新的技術を従来技術と融合させることで、高輝度かつ長期安定性を兼ね備えたシンチレータを実現しました。

特長

１．輝度向上
ベースフィルムの反射率を上げる事でフォトセンサへの入射光量を増加。

２．耐久性の向上
X線照射により劣化し黄変する有機物質を突き止め、改良を実施。

耐久性の向上イメージ

技術情報

＜蛍光体による撮像イメージ＞
　例：コンベア搬送型のX線検査

蛍光体による撮像図１

蛍光体による撮像図２

＜蛍光体の種類＞

GOS:Tb GOS：Pr
テルビウムドープ酸硫化ガドリニウム プラセオジムドープ酸硫化ガドリニウム
Ｘ線を吸収した後に、可視光の光に変えて放出する蛍光体の一種で、高輝度用シンチレータに採用。 Ｘ線を吸収した後に、別の波長の光に変えて放出する蛍光体の一種で、GOS:Tbより残光が短いため高速で動く製品への検査に用いられる。

＜高輝度品＞（GOS:Tb蛍光体）

TDR-SK-NN
新技術採用品 従来品
MTF 2lp/mm 0.10 0.10
設計 ベースフィルム 高反射率品 汎用品
蛍光体重量 1.0 1.0
輝度 初期輝度 [%] 116 100
X線耐性 輝度変化率
初期輝度＝100%		 94
（高耐久設計）		 76
（汎用設計）
残光 Decay time [μs] 650 650

＜短残光品＞（GOS:Pr蛍光体）

TDR-SL-NN
新技術採用品 従来品
MTF 2lp/mm 0.08 0.08
設計 ベースフィルム 高反射率品 汎用品
蛍光体重量 1.0 1.0
輝度 初期輝度 [%] 121 100
X線耐性 輝度変化率 [%]
（初期輝度＝100%） 		98
（高耐久設計） 		89
（汎用設計）
残光 Decay time [μs] 2.9 2.9

※測定条件　当社測定装置・条件にて測定。
　輝度：70kV no-filter
　X線耐性：60kVで累積 1.1MGyをX線照射し50日後の輝度値（70kV no-filter）初期輝度を100%として相対値で記載